发明名称 半导体记忆装置
摘要 [课题]本发明半导体记忆装置为提供,抑制记忆格面积增加,此外得到超高速读出时间,更当自我更新时,可得到长时间之更新间隔,高集积且超高速,更可以大幅减少资讯保持时之消费电力。[解决手段]1交叉点单元.2单元/位元方式所使用之DRAM,使用1交叉点6F2之双单元构造为位元线对BL、 及字元线对WL所有交叉点之对应位置配置记忆格MC,字元线WL之间隔的一半为F时,位元线对BL、 之位元线的间隔为大于2F并小于4F。更,记忆格MC之电晶体的源极、通道、汲极所形成矽电路板上动态区域AA,对于位元线对BL、 方向成为倾斜构成。
申请公布号 TW200814083 申请公布日期 2008.03.16
申请号 TW096145672 申请日期 2003.03.12
申请人 尔必达存储器股份有限公司 发明人 宫武伸一;谷一彦;宫泽一幸;关口知纪;竹村理一郎;阪田健
分类号 G11C7/18(2006.01) 主分类号 G11C7/18(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本