基于双芯片电子标签的加密校验方法

摘要

本发明提出一种基于双芯片电子标签的加密校验方法，它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片，在A芯片中的EPC区任取a位字符，在B芯片的EPC区任取8-a位字符组成8位字符的密码，并将该密码存入加密区，将A芯片的TID存入到B芯片的用户区，将B芯片的TID存入到A芯片的用户区，作为校验依据，校验时，读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较，而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较，如果有一个不相同，则校验失败，不进入输入密码的步骤，如果两个都相同，则可以输入密码。采用这种方法加密等级非常高，理论上密码是不会被破解。

主权项

一种基于双芯片电子标签的加密校验方法，其特征在于：它采用了两个射频识别芯片A芯片和B芯片，所述加密校验方法包括以下步骤：1、在A芯片中的EPC区任取m位字符，在B芯片的EPC区任取8‑m位字符组成8位字符的密码，并将该密码存入加密区，所述EPC为产品电子编码；2、将A芯片的TID存入到B芯片的用户区，将B芯片的TID存入到A芯片的用户区，作为校验依据，其中TID为芯片的芯片身份标识；3、输入密码之前先进行校验，校验时，读取B芯片的TID并与存储在A芯片中的B芯片的TID做比较，而且读取A芯片的TID并与存储在B芯片中的A芯片的TID作比较，如果有一个不相同，则校验失败，不进入输入密码的步骤，如果两个都相同，则进入输入密码的步骤；其中，8>m>0。