| 发明名称 | 使用解码器性能反馈的用于存储器器件的软数据生成的方法和装置 | ||
| 摘要 | 使用解码器性能反馈为存储器器件生成软数据的方法和装置。在存储器器件中通过如下步骤产生至少一个软数据值：从解码器获得性能反馈；基于所述性能反馈获得读取统计数据；以及基于所获得的读取统计数据产生所述至少一个软数据值。所述性能反馈包括解码的位、基于由所述解码器解码的数据的错误位的数目以及未满足的奇偶校验的数目中的一个或更多个。 | ||
| 申请公布号 | CN102203877B | 申请公布日期 | 2016.07.06 |
| 申请号 | CN200980143075.2 | 申请日期 | 2009.09.30 |
| 申请人 | LSI公司 | 发明人 | E·F·哈拉特什;M·伊威科维克;V·克拉琦科夫斯基;N·米拉德诺维奇;A·维缇亚埃夫;C·威廉姆森;J·延 |
| 分类号 | G11C16/34(2006.01)I;G11C16/26(2006.01)I;G11C7/10(2006.01)I;G11C11/56(2006.01)I | 主分类号 | G11C16/34(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人 | 王田 |
| 主权项 | 一种用于在存储器器件中产生至少一个软数据值的方法，包括：从解码器获得解码器性能反馈；基于所述解码器性能反馈获得读取统计数据，其中，所述读取统计数据是基于针对存储阵列中的位置的二进制通道的错误概率和概率密度函数中的一者或多者的；以及基于所获得的读取统计数据产生所述至少一个软数据值。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚 | ||