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发明名称 IC-TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH10160808(A) 申请公布日期 1998.06.19
申请号 JP19960317681 申请日期 1996.11.28
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 YAJIMA NOBUAKI
分类号 G01R31/3183;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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