| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR100258426(B1) |
申请公布日期 |
2000.06.01 |
| 申请号 |
KR19970023011 |
申请日期 |
1997.06.04 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP. |
发明人 |
OONISI, TAKESI;SUZUKI, KACHUHIKO |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3193;G11C29/56;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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