发明名称 Ölçme devresi
摘要 Bir dielektrokinesis bulgulama cihazi için bir akim detektör ve ölçme devresi temin edilmistir. Bu cihazi insanlar, hayvanlar, malzeme ya da kontrol edilen maddeler gibi niteligi belirsiz olabilecek nesnelerin konumlandirilmasi alanlarinda özellikle yararlidir. Bir akim detektörü bir antene baglanmistir ve bir bulgulama ortami içinde dielektrokinesisde küçük degisiklikler cerayan ettiginde bunlari bulgulamaktadir. Bulusun akim detektörü kendini çevre elektrit alani degerlerine otomatik biçimde sifirlamakta ve bu yüzden, dielektrokinesisteki degisikliklerin neden oldugu elektrik alani degisiklikleri için yükseltilmis bir duyarliliga sahip olmaktadir. Bu bulus, sakli nesneler ya da maddelerin bulgulanmasi için, hareket bulgulamasi için, tibbi teshis bulgulamasi ve diger kullanimlar için kullanilabilecektir.
申请公布号 TR200000510(T2) 申请公布日期 2000.07.21
申请号 TR20000000510T 申请日期 1998.08.20
申请人 DKL INTERNATIONAL, INC. 发明人 THOMAS AFILANI
分类号 G01V3/08;A61B5/0428;G01N27/60;G08B13/24;G08B13/26;(IPC1-7):G08B13/26 主分类号 G01V3/08
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利