发明名称 具有电极之半导体装置及具有电极之半导体装置的制造方法
摘要 本发明之半导体装置的制造方法,系包含:介由控制闸极绝缘膜(4)形成控制闸极电极(5)之第1电极形成步骤;于半导体基板(1)的表面上形成记忆节点绝缘膜(6)的步骤。又包含:于记忆节点绝缘膜(6)的表面上形成记忆体闸极电极之第2电极形成步骤。第2电极形成步骤,系包含:于记忆节点绝缘膜(6)的表面上形成记忆体闸极电极层(7a)的步骤;于记忆体闸极电极层(7a)的表面上形成蚀刻速度较记忆体闸极电极层(7a)更慢之辅助膜(8)的步骤;及对记忆体闸极电极层(7a)及辅助膜,进行异方性蚀刻的步骤。
申请公布号 TW200733309 申请公布日期 2007.09.01
申请号 TW095145945 申请日期 2006.12.08
申请人 瑞萨科技股份有限公司 发明人 冈崎勉;芦田基;小崎浩司;古贺刚;冈田大介
分类号 H01L21/8247(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本