INSPECTION DEVICE FOR CRYSTAL LATTICE SURFACE OF SINGLE CRYSTAL SAMPLE AND CLASSIFICATION DEVICE FOR SINGLE CRYSTAL SAMPLE,申请号JP19930062948-传众专利搜索

发明名称	INSPECTION DEVICE FOR CRYSTAL LATTICE SURFACE OF SINGLE CRYSTAL SAMPLE AND CLASSIFICATION DEVICE FOR SINGLE CRYSTAL SAMPLE
摘要
申请公布号	JPH06249801(A)	申请公布日期	1994.09.09
申请号	JP19930062948	申请日期	1993.02.26
申请人	RIGAKU CORP	发明人	KOBAYASHI YUJI
分类号	G01N23/207;(IPC1-7):G01N23/207	主分类号	G01N23/207
代理机构		代理人
主权项
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