发明名称 |
于静态电流测试下检测全域字元线缺陷 |
摘要 |
检测记忆体缺陷的装置,包括一第一全域字元线;一第二全域字元线;一全域字元线前端电路,连接至该第一全域字元线;一全域字元线驱动电路,连接至该第一全域字元线;一位元储存电路,连接至该第一全域字元线,以及包括复数位元储存电晶体,其中,该复数位元储存电晶体包括复数寄生电容;以及一压控电流电晶体,包括一第一端、一第二端及一第三端,其中,该第一端连接至该第一全域字元线,该第二端连接至该全域字元线前端电路,以及该第三端输出测试电流。
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申请公布号 |
TWI534819 |
申请公布日期 |
2016.05.21 |
申请号 |
TW103126261 |
申请日期 |
2014.07.31 |
申请人 |
常忆科技股份有限公司 |
发明人 |
杨连圣;张鸿文 |
分类号 |
G11C29/02(2006.01);G11C8/08(2006.01) |
主分类号 |
G11C29/02(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
侯德铭 |
主权项 |
一种检测记忆体缺陷的装置,包括:一第一全域字元线,包括一寄生电容;一第二全域字元线;一全域字元线前端电路;一全域字元线驱动电路,连接至该全域字元线前端电路及驱动该第一全域字元线;一区域字元线驱动电路,连接至该第一全域字元线及驱动一区域字元线;以及一压控电流电晶体,包括一第一端、一第二端及一第三端,其中,该第一端连接至该第一全域字元线,该第二端连接至该全域字元线前端电路及该全域字元线驱动电路之间,以及该第三端输出测试电流。
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区科技五路2号3楼 |