Infrarot- und Raman-Spektroskopie

摘要

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Analyse einer Probe (1), umfassend die Schritte Anlegen eines nicht-linearen Mediums (3) an die Probe (1), Bestrahlen der Probe (1) von einer dem nicht-linearen Medium (3) abgewandten Seite mit einer ersten elektromagnetischen Strahlung (4), die eine Infrarot(IR)-Strahlung ist, Bestrahlen der Probe (1) mit einer zweiten elektromagnetischen Strahlung (5), und Erfassen eines Summenfrequenzsignals (300) an einer der Probe (1) zugewandten Oberfläche des nicht-linearen Mediums (3). Des Weiteren betrifft die Erfindung eine zur Ausführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung.