| 发明名称 |
PACKAGE FOR TESTING INDUCTANCE-PARAMETER OF SEMICONDUCTOR PACKAGE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
KR200184164(Y1) |
申请公布日期 |
2000.06.01 |
| 申请号 |
KR19970042667U |
申请日期 |
1997.12.29 |
| 申请人 |
HYUNDAI MICRO ELECTRONICS CO.,LTD. |
发明人 |
SEOL, BYOUNG SU |
| 分类号 |
H01L21/60;(IPC1-7):H01L21/60 |
主分类号 |
H01L21/60 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
