发明名称 检知放大器
摘要 本发明乃提供一种可将对记忆电晶体之存取时间维持在短的状态,且能够进行确实之动作的检知放大器。其特征在于包括:位于第一正电源2与半导体记忆装置51、52之间,而被串联连接至上述第1正电源2,且备有低的接通(ON)电阻的第1电晶体3、位于上述第1电晶体3与上述半导体记忆装置51、52之间,而被串联连接至上述第1电晶体3,且与备有反转元件(5)之负回馈电路连接之第2电晶体4及位于第2正电源8与检知放大器输出部11之间,而被串联连接至上述第2正电源8,且与上述第1电晶体3构成电流镜构造,而备有低的接通电阻的第3电晶体9。
申请公布号 TW198158 申请公布日期 1993.01.11
申请号 TW081107175 申请日期 1992.09.10
申请人 理光股份有限公司 发明人 宫西英司
分类号 H03K19/177 主分类号 H03K19/177
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 1.一种检知放大器,其主要特征包括:第1电晶体(3):位于第1正电源(2)与半导体记忆装置(51,52)之间,而被串联连接至上述第1正电源,且具备低的接通电阻値;第2电晶体(4):位于上述第1电晶体(3)与上述半导体记忆装置(51,52)之间,而被串联连接至上述第1电晶体(3),且与备有反转元件(5)之负回馈电路连接;第3电晶体(9):位于第2正电源(8)与检知放大器输出部之间,而被串联连接至上述第2正电源(8),且与上述第1电晶体(3)构成电流镜构造,而备有低的接通电阻値。2.如申请专利范围第1项之检知放大器,更包括杂讯除去装置(6,7),具备有闸极上被供给有上述反转元件(5)之输出信号之第4电晶体(7),而用于防止因被输入至位在上述第2电晶体(4)与上述半导体装置(51,52)之间之检知放大器输入部之杂讯,而导致上述检知放大器输入部之电位上昇。3.如申请专利范围第1项或第2项之检知放大器,其具备有:第5电晶体(16):位于第3正电源(15)与虚半导体记忆装置(13,14)之间,而被串联连接至上述第3正电源(15),且具备低的接通电阻値;第6电晶体(28):位于上述第5电晶体(16)与上述虚半导体记忆装置(13,14)之间,而被串联连接至上述第5电晶体(16),且与备有反转元件(18)之负回馈电路连接;第7电晶体(22):被串联连接至第4正电源(21),而与上述第5电晶体(16)构成电流镜构造,具备有低的接通电阻値;杂讯除去装置(18,19,20):备有在闸极上被供给有上述反转元件(18)之输出信号的第8电晶体(20),而能够防止因被输入至位在上述第6电晶体(17)与上述虚半导体记忆装置(13,14)之间之输入部的杂讯所导致上述输入部之电位上昇;输出信号安定部:分别被串联连接至上述第3电晶体(9)及上述第7电晶体(22)之第9及
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