| 发明名称 |
CONTROL CIRCUIT FOR WRITE-IN OF MEMORY TESTER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0855498(A) |
申请公布日期 |
1996.02.27 |
| 申请号 |
JP19940209192 |
申请日期 |
1994.08.10 |
| 申请人 |
HITACHI ELECTRON ENG CO LTD |
发明人 |
ISONO HITOSHI |
| 分类号 |
G01R31/3183;G06F12/16;G11C16/06;G11C17/00;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G11C29/00;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3183 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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