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经营范围
发明名称
光学零件之检查方法及检查装置
摘要
提供能以高精确度地评价光学零件之性能的检查方法。所述检查方法从通过光学零件之光形成具有不同相位之第1与第2光,并使第1光与第2光干涉而形成干涉区域。于干涉区域设定三直线而在各直线上求得光强度分布。又,求得对应最大光强度的频率。而且,从就直线分别求得之多数频率而求得近似直线或近似曲线。以经近似之直线或曲线的因数为基准而评价光学零件的收差。
申请公布号
TW200630604
申请公布日期
2006.09.01
申请号
TW094146755
申请日期
2005.12.27
申请人
松下电器产业股份有限公司
发明人
高田和政;宇津吕英俊;古田宽和;浦岛毅吏
分类号
G01N21/45;G02B3/00
主分类号
G01N21/45
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
日本
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