半导体测试管理系统及方法

摘要

一种半导体测试管理系统及方法。一部第二电脑以从一部第一电脑接收接收一报废规则，取得相应于报废规则之一初始报废设定值，当报废条件较松于或等于初始报废设定值时，储存报废规则为一统计控制／统计限制规则，取得一晶圆或一晶圆批次之一电性针测测试结果，以及将电性针测测试结果载入储存之统计控制／统计限制规则中以产生晶圆或晶圆批次之一建议报告。