发明名称 用于自动地调整金属氧化物半导体及互补金属氧化物半导体积体电路单元布局的方法
摘要 本发明揭露一种用于自动地调整一种金属氧化物半导体(MOS)积体电路(IC)单元布局的方法,该方法包含下列对至少一该单元执行布林运算的方法:判定一主动(OD)层中一个或多个MOS电晶体主动区(OD)与一个或多个电源OD;在一预定方向,以一第一预定量延展该MOS电晶体OD;在该预定方向,以一第二预定量移动该动源OD;在该预定方向,以一第三预定量延展一个或多个MOS电晶体闸极区;在该预定方向,以近似该第二预定量移动一个或多个电源接点该电源OD;以及在该预定方向以一预定方法,延伸在一金属层中透过接点直接电性耦合该OD层的一个或多个金属区(M1s)。
申请公布号 TW200817957 申请公布日期 2008.04.16
申请号 TW096127966 申请日期 2007.07.31
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 张弥彰;林素雅;杨任航;田丽钧
分类号 G06F17/50(2006.01) 主分类号 G06F17/50(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文;颜锦顺
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号