发明名称 |
快闪存储器结构及其制备方法 |
摘要 |
本发明的快闪存储器结构包含一具有一V型凹槽的基板、一设置于该基板中的第一掺杂区、二个设置于该V型凹槽两侧的基板中的第二掺杂区、一设置于该基板表面的介电堆叠结构以及一设置于该V型凹槽上方的介电堆叠结构表面的导电层,其中介电堆叠结构具有多个捕捉位置夹置于其中。该V型凹槽的制备方法包含形成一屏蔽层于该基板表面、形成一开口于该屏蔽层中、蚀刻该开口下方的基板以形成该V型凹槽以及去除该屏蔽层。优选地该基板可为硅基板,该V型凹槽具有一斜面位于该硅基板的(111)结晶面,且该硅基板的(100)结晶面朝向下方。 |
申请公布号 |
CN1956217A |
申请公布日期 |
2007.05.02 |
申请号 |
CN200510118410.7 |
申请日期 |
2005.10.28 |
申请人 |
茂德科技股份有限公司 |
发明人 |
陈世芳;高建纲 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01);H01L27/105(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L21/8239(2006.01) |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波;侯宇 |
主权项 |
1.一种快闪存储器结构,包括:一半导体基板,具有一V型凹槽;一第一掺杂区,至少设置该V型凹槽下方的半导体基板中;二个第二掺杂区,设置于该V型凹槽两侧的半导体基板中;一介电堆叠结构,其具有多个捕捉位置,并至少设置于该半导体基板的V型凹槽表面;以及一导电层,设置于该V型凹槽上方的介电堆叠结构表面。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园 |