发明名称 快闪存储器结构及其制备方法
摘要 本发明的快闪存储器结构包含一具有一V型凹槽的基板、一设置于该基板中的第一掺杂区、二个设置于该V型凹槽两侧的基板中的第二掺杂区、一设置于该基板表面的介电堆叠结构以及一设置于该V型凹槽上方的介电堆叠结构表面的导电层,其中介电堆叠结构具有多个捕捉位置夹置于其中。该V型凹槽的制备方法包含形成一屏蔽层于该基板表面、形成一开口于该屏蔽层中、蚀刻该开口下方的基板以形成该V型凹槽以及去除该屏蔽层。优选地该基板可为硅基板,该V型凹槽具有一斜面位于该硅基板的(111)结晶面,且该硅基板的(100)结晶面朝向下方。
申请公布号 CN1956217A 申请公布日期 2007.05.02
申请号 CN200510118410.7 申请日期 2005.10.28
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 陈世芳;高建纲
分类号 H01L29/78(2006.01);H01L27/105(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L21/8239(2006.01) 主分类号 H01L29/78(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种快闪存储器结构,包括:一半导体基板,具有一V型凹槽;一第一掺杂区,至少设置该V型凹槽下方的半导体基板中;二个第二掺杂区,设置于该V型凹槽两侧的半导体基板中;一介电堆叠结构,其具有多个捕捉位置,并至少设置于该半导体基板的V型凹槽表面;以及一导电层,设置于该V型凹槽上方的介电堆叠结构表面。
地址 中国台湾新竹科学工业园
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