发明名称 非挥发性半导体记忆体装置
摘要 本发明的目的在于提供一种具有优异的写入特性及电荷保持特性的非挥发性半导体记忆体装置。另外,本发明还提供一种能够降低写入电压的非挥发性半导体记忆体装置。本发明是一种非挥发性半导体记忆体装置,包括在彼此相离而形成的一对杂质区之间具有通道形成区的半导体层或半导体基板;以及设置在半导体层或半导体基板的上方且与通道形成区重叠的位置上的第一绝缘层、由不同氮化物化合物形成的多个层、第二绝缘层、以及控制闸极电极。
申请公布号 TW200814240 申请公布日期 2008.03.16
申请号 TW096118226 申请日期 2007.05.22
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 发明人 高野圭惠;德田笃史;田岛亮太;山崎舜平
分类号 H01L21/8247(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本