主权项 |
一种元器件抗总剂量生存能力预估方法,包括:步骤1)、获取一组实测的同批次MOS器件总剂量辐照数据,根据这些总剂量辐照数据,计算出器件总剂量耐量的几何平均数<img file="FDA0000928210090000017.GIF" wi="81" he="63" />总剂量耐量的对数标准差σ;步骤2)、MOS器件抗总剂量生存概率与空间环境指标要求、总剂量余量之间的关系存在对数正态分布:<maths num="0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>F</mi><mrow><mo>(</mo><mi>D</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mi>Φ</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mi>l</mi><mi>n</mi><mrow><mo>(</mo><mi>D</mi><mo>/</mo><mover><mi>D</mi><mo>~</mo></mover><mo>)</mo></mrow></mrow><mi>σ</mi></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0000928210090000011.GIF" wi="582" he="151" /></maths>式中,F(D)——累积总剂量失效概率;D——环境总剂量,单位为rad(Si);<img file="FDA0000928210090000012.GIF" wi="54" he="70" />——器件总剂量耐量的几何平均值,单位为rad(Si);σ——总剂量耐量的对数标准差;绘出F(D)~D的关系曲线;步骤3)、由总剂量生存概率P(D)=1‑F(D),得到:<maths num="0002"><math><![CDATA[<mrow><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><mi>D</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mi>Φ</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mi>l</mi><mi>n</mi><mrow><mo>(</mo><mover><mi>D</mi><mo>~</mo></mover><mo>/</mo><mi>D</mi><mo>)</mo></mrow></mrow><mi>σ</mi></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0000928210090000013.GIF" wi="582" he="175" /></maths>根据<img file="FDA0000928210090000014.GIF" wi="52" he="63" />和σ的拟合值,绘出P(D)~D的关系曲线;步骤4)、在步骤3中的公式中,设<img file="FDA0000928210090000015.GIF" wi="291" he="62" />得到:<maths num="0003"><math><![CDATA[<mrow><mi>P</mi><mrow><mo>(</mo><mi>M</mi><mo>)</mo></mrow><mo>=</mo><mi>Φ</mi><mrow><mo>(</mo><mfrac><mrow><mi>ln</mi><mi>M</mi></mrow><mi>σ</mi></mfrac><mo>)</mo></mrow></mrow>]]></math><img file="FDA0000928210090000016.GIF" wi="500" he="151" /></maths>以器件总剂量耐量的对数标准差σ为变参数,绘出P(M)~M的关系曲线;步骤5)、批次性MOS器件的抗总剂量生存概率与总剂量耐量的对数标准差σ有关,控制σ在有限的总剂量余量下提高生存概率。 |