| 摘要 |
코딩된 정보를 그 위에 가지는 분석물 테스트 센서 스트립 뿐만 아니라 동일한 것을 형성하고 분석물 테스트 센서 스트립을 사용하여 분석물 테스트를 수행하는 방법이 개시된다. 스트립 또는 스트립들의 배치/로트의 속성에 관련한 정보는 스트립의 전기적 양태들, 이를테면 일차 저항성 엘리먼트 및 이차 저항성 엘리먼트에 관련한 저항 값들에 기초하여 코딩될 수도 있으며, 이차 저항성 엘리먼트는 폐쇄된 탭의 로케이션에 의존하여 일차 저항성 엘리먼트의 부분을 구비하는 이차 저항성 엘리먼트를 위한 고유 저항성 경로를 형성하는 폐쇄된 탭의 로케이션에 의해 규정된 복수의 상태들 중 하나를 갖는다. 그 상태들은 복수의 탭들이 폐쇄 상태에서 하나의 탭에만 남겨지게 절단되는 스트립의 제조 시의 이차 프로세싱 단계에 의해 스트립 상에 형성될 수도 있다. |
