| 发明名称 |
TESTING DEVICE AND METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH11230850(A) |
申请公布日期 |
1999.08.27 |
| 申请号 |
JP19980030836 |
申请日期 |
1998.02.13 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
UMEKITA KAZUHIRO;HORIUCHI TOSHIHIKO;MOMOI YASUYUKI;INOUE MASAHIKO;KONNO TAKAO |
| 分类号 |
G01M7/02;(IPC1-7):G01M7/02 |
主分类号 |
G01M7/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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