发明名称 Method of measuring refractive index of thin film
摘要
申请公布号 EP0585883(B1) 申请公布日期 1999.11.03
申请号 EP19930113919 申请日期 1993.08.31
申请人 SHINCRON CO., LTD. 发明人 SAISHO, SHINICHIRO;IKEDA, TOSHINOBU;ODAGIRI, AKIRA
分类号 C23C14/54;G01N21/41;G01N21/84;(IPC1-7):G01N21/41 主分类号 C23C14/54
代理机构 代理人
主权项
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