具有容易更换的介面单元之半导体测试系统

摘要

本发明揭示一子组件，以助于更换用于一自动测试系统之介面单元。所揭示的实施例系显示其具有一操控器与一测试器之一自动测试系统。该介面单元系一装置介面板（DIB）。该子组件系允许DIB为易于接近，而还可为适当对准至测试系统。并无特殊的工具系为所需以更换DIB。