发明名称 |
TEST CLOCK AUTOMATIC GENERATING CIRCUIT FOR BOUNDARY SCAN OPERATION OF IC |
摘要 |
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申请公布号 |
KR0130518(B1) |
申请公布日期 |
1998.10.01 |
申请号 |
KR19940040193 |
申请日期 |
1994.12.30 |
申请人 |
INSTITUTE FOR ADVANCED ENGINEERING |
发明人 |
KIM, JOO-KWANG |
分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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