| 主权项 |
1.一种将一电子测试头停置于一处理器之系统,包含:一停置总成,其系用以至少部分地对准该电子测试头与该处理器,然后再将其靠置在一起;以及一动力驱动致动器,其系用以在将该电子测试头与该处理器靠置在一起的过程中,提供仅部分地动力辅助。2.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该停置总成系包括至少两个配置在该电子测试头与该处理器其中一者上之凸轮,且该两凸轮之操作系机械式地同步进行。3.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该电子测试头与该处理器在其间形成电气接触之前先对准。4.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该动力驱动致动器系藉由一可变的空气压力値所致动,以在该停置总成操作期间具有不同的触感反应。5.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中在将该电子测试头与该处理器靠置在一起的期间,该电子测试头与该处理器之间进一步对准。6.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其尚包含:在该电子测试头与该处理器之其中一者上具有复数个对准特征;以及在该测试头与该电子处理器之另一者上具有复数个对准特征容槽。7.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其尚包含:复数凸轮,其系用以操作该停置总成,且安装在该电子测试头与该处理器之其中一者上;以及复数角块,其系安装在该电子测试头与该处理器之其中另一者上,以在该电子测试头与该处理器之间提供粗略对准,在该电子测试头与该处理器朝向彼此靠近时,每一角块系对准至少一凸轮。8.根据申请专利范围第1项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其尚包含:至少一感应器,其系用以侦测该电子测试头与该处理器相对于彼此之定位关系,俾使该动力驱动致动器可以运作以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠近。9.根据申请专利范围第8项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该感应器系可进一步使该动力驱动致动器作动。10.根据申请专利范围第6项之系统,其中该对准特征系导销,且该对准特征容槽系导销容槽。11.根据申请专利范围第10项之系统,其中每一导销容槽系包括在该安装于该电子测试头及该处理器之其中一者上之复数角块的每一角块中,且每一角块系邻近对准于该安装在该电子测试头与该处理器之其中另一者上之至少一各别凸轮。12.根据申请专利范围第6项之系统,其中至少一对准特征系包括一运动配合表面,且一对应的对准特征容槽系包括一运动表面。13.根据申请专利范围第12项之系统,其中该运动配合表面系包括一滚珠,且该对准特征容槽系一凹沟。14.根据申请专利范围第12项之系统,其中该系统系包括三个运动配合表面以及三个对准特征容槽,每一运动配合表面系包括一滚珠。15.根据申请专利范围第7项之系统,其中该系统尚包含:至少一额外的感应器,其系用以侦测以下两位置之至少一位置:(a)至少一凸轮之位置,以及(b)在该电子测试头与该处理器相对于彼此之定位关系中,侦测出在至少两个对准位置中较为粗略对准之位置。16.一种将一电子测试头停置于一处理器之系统,包含:一停置总成,其系用以将该电子测试头与该处理器靠置在一起;一用以操作该停置总成之机构;至少一致动器,其系用以操作该机构;以及至少一感应器,其系用以侦测该机构之位置。17.根据申请专利范围第16项之系统,其中该机构系包含至少两凸轮。18.根据申请专利范围第17项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其尚包含一可随机构一起移动之目标,其中该感应器系可侦测由该目标所反射出来之光线。19.根据申请专利范围第17项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该感应器系可侦测以下位置之至少一位置:一第一位置,在此位置上,定位于该电子测试头与该处理器之其中一者上之至少一凸轮系已预备接受一各别的凸轮从动件,其中该凸轮从动件系定位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上;一停置位置,在此位置上,该电子测试头与该处理器系已靠置在一起;以及一介于该第一位置与停置位置之间的位置。20.根据申请专利范围第16项之系统,其尚包含:至少一额外的感应器,其系用以侦测以下两状况之至少一状况:(a)在该电子测试头与该处理器相对于彼此之定位关系中,侦测出在至少两个对准位置中较为粗略对准之位置,以及(b)该电子测试头系相对于该处理器而定位成可使至少一致动器能够作动,以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠近。21.根据申请专利范围第16项之系统,其尚包含:在该电子测试头与该处理器之其中一者上系具有复数个对准特征;以及在该电子测试头与该处理器之另一者上系具有复数个对准特征容槽。22.一种用以将一电子测试头停置于一处理器之系统,包含:一停置总成,其系用以将该电子测试头与该处理器靠置在一起;复数凸轮,其系位在该电子测试头与该处理器之其中一者上,以操作该停置总成;复数角块,其系位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上,每一角块系用以邻近对准复数凸轮之至少一凸轮;至少一动力驱动致动器,以提供该凸轮之驱动操作;以及一感应器,其系用以在该电子测试头与该处理器相对于彼此之定位关系中,侦测出在至少两个对准位置中较为粗略对准之位置。23.根据申请专利范围第22项之系统,其尚包含:在该电子测试头与该处理器之其中一者上系具有复数个对准特征;以及在该电子测试头与该处理器之另一者上系具有复数个对准特征容槽。24.根据申请专利范围第23项之系统,其中该对准特征系导销,且该对准特征容槽系导销容槽。25.根据申请专利范围第24项之系统,其中每一导销容槽系包括在每一复数角块中。26.根据申请专利范围第23项之系统,其中至少一对准特征系包括一运动配合表面,且一对应的对准特征容槽系包括一运动表面。27.根据申请专利范围第26项之系统,其中该运动配合表面系包括一滚珠,且该对准特征容槽系一凹沟。28.根据申请专利范围第26项之系统,其中该系统系包括三个运动配合表面以及三个对准特征容槽,每一运动配合表面系包括一滚珠。29.根据申请专利范围第22项之系统,其尚包含:至少一额外的感应器,其系用以侦测以下两位置之至少一位置:(a)至少一凸轮之位置,以及(b)该电子测试头系相对于该处理器的定位位置,其中该位置系可使至少一致动器能够作动,以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠近。30.一种用以将一电子测试头停置于一处理器之系统,包含:复数凸轮,其系位在该电子测试头与该处理器之其中一者上;至少一致动器,其系用以驱动该凸轮;位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上之角块,其系用以与该凸轮相配合,以将该电子测试头停置于该处理器;凸轮从动件,其系连接至该角块,以与该凸轮相衔接;以及至少一感应器,其系当至少一凸轮从动件与一各别之凸轮相衔接时,用以侦测在该电子测试头与该处理器之间的相对位置。31.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其尚包含在该电子测试头与该处理器之其中一者上具有复数个对准特征,以对准该电子测试头与该处理器。32.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该凸轮系可手动操作。33.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中在形成电气连接之前,该电子测试头与该处理器系先在X轴、Y轴及Z轴对准。34.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该感应器系可侦测至少一以下的位置:一可致动位置,在此位置上,该致动器系预备致动;一停置位置,在此位置上,该电子测试头与该处理器系已靠置在一起;以及一介于该可致动位置与停置位置之间的位置。35.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该感应器系一种光电感应器。36.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该感应器系光电感应器,其可传送光线通过光纤。37.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中在丧失动力之后,该电子测试头仍可保持停置于该处理器。38.根据申请专利范围第30项之用于将一电子测试头停置于一处理器之系统,其中该系统系包括位在该电子测试头与该处理器之其中一者上之角块,以在停置之前,可以保护位在该电子测试头与该处理器之至少一者上的电气接点。39.一种用以将一电子测试头停置于一处理器之系统,包含:一停置总成,其系用以将该电子测试头与该处理器靠置在一起;至少两凸轮,其系位在该电子测试头与该处理器之至少其中一者上,以操作该停置总成;复数角块,其系位在该电子测试头与该处理器之另一者上,每一角块系相邻对准至该复数凸轮之至少一凸轮;至少一动力驱动致动器,其系用以提供该凸轮至少部分地动力操作;至少一把手,其系可选择性地手动操作至少一凸轮,此一手动操作系增添于或独立于该凸轮之至少部分地动力操作;复数个对准特征,其系位在该电子测试头与该处理器之其中一者上;复数个对准特征容槽,其系位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上,以收纳该对准特征。40.根据申请专利范围第39项之系统,其中该对准特征系包括一运动配合表面,且该对准特征容槽系包括至少一运动表面。41.根据申请专利范围第39项之系统,其尚包含:至少一额外的感应器,其系用以侦测以下至少一位置:(a)至少一凸轮之位置,(b)该电子测试头系相对于该处理器的定位位置,其中该位置系可使至少一致动器能够作动,以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠近,以及(c)在该电子测试头与处理器相对于彼此之定位关系中,侦测出在至少两个对准位置中较为粗略对准之位置。42.一种将一电子测试头停置于一处理器之方法,其包含以下之步骤:对准该电子测试头与该处理器;以及致动至少一动力驱动致动器,以在将该电子测试头与该处理器靠合在一起的过程中,提供仅部分地动力辅助。43.一种将一测试头停置于一处理器之方法,其包含以下之步骤:侦测至少一对准特征进入至一各别的对准特征容槽,该对准特征系位在该电子测试头与该处理器之其中一者上,且该对准特征容槽系位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上;侦测该电子测试头与该处理器相对于彼此之位置关系,使得至少一动力驱动致动器可以作动,以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠合;以及致动该至少一动力驱动致动器,以在将该电子测试头与该处理器朝向彼此靠合的过程中,提供至少部分地动力辅助。44.一种将一电子测试头停置于一处理器之方法,其包含以下之步骤:侦测至少一对准特征进入至一各别的对准特征容槽,该对准特征系位在该电子测试头与该处理器之其中一者上,且该对准特征容槽系位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上;侦测复数凸轮之至少一凸轮的位置,其中该位置系以下位置之至少其中一位置:(a)一第一位置,在此位置上,定位于该电子测试头与该处理器之其中一者上之至少一凸轮系已预备接收一各别的凸轮从动件,其中该凸轮从动件系定位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上,(b)一停置位置,在此位置上,该电子测试头与该处理器系已靠置在一起,以及(c)一介于该第一位置与停置位置之间的位置;以及致动该至少一动力驱动致动器,以在将该电子测试头与该处理器朝向彼此靠合的过程中,提供至少部分地动力辅助。45.一种将一电子测试头停置于一处理器之方法,其包含以下之步骤:侦测至少一对准特征进入至一各别的对准特征容槽,该对准特征系位在该电子测试头与该处理器之其中一者上,且该对准特征容槽系位在该电子测试头与该处理器之其中另一者上;侦测该电子测试头与该处理器相对于彼此之位置关系,使得至少一动力驱动致动器可以作动,以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠合;藉由一操作员来起动一停置总成之手动致动,以将该电子测试头与该处理器朝向彼此来靠合;以及致动该至少一动力驱动致动器,以在将该电子测试头与该处理器朝向彼此靠合的过程中,提供部分地动力辅助。46.根据申请专利范围第45项之方法,其中该起动步骤系包括操作一把手,该把手系用以起动该停置总成之操作。47.根据申请专利范围第45项之方法,其尚包含以下之步骤:将该电子测试头停置于该处理器。48.根据申请专利范围第45项之方法,其尚包含以下之步骤:操作员在侦测到以下至少一状况时便中断该起动或致动步骤,其中该状况系包括(a)在该电子测试头与该处理器之间不对准,以及(b)在该电子测试头与该处理器之间存在有阻碍物。图式简单说明:图1A系习知停置器的立体视图。图1B系习知停置器其连结至一处理器之部分的立体视图。图1C系习知停置器位在预备致动位置之截面视图。图1D系习知停置器位在完全停置位置之截面视图。图2系依照本发明之停置器的立体视图。图3A系一停置器之测试头那一侧的立体视图。图3B系一停置器之处理器那一侧的立体视图。图4系一非依照实际比例绘制之视图,其中显示一习知停置器之凸轮从动件相对于其凸轮之转动角度的关系。图5A系一凸轮与角块在预备停置位置之截面视图。图5B系一粗略对准销与导引轴衬在预备停置位置上之截面视图。图5C系凸轮转动感应器与目标在预备停置位置之正视图。图6A系一凸轮与角块在一第一粗略对准位置之截面视图。图6B系一粗略对准销与导引轴衬位在一第一粗略对准位置之截面视图。图6C系凸轮转动感应器与目标在一第一粗略对准位置上之正视图。图7A系一凸轮与角块位在一第二粗略对准位置之截面视图。图7B系粗略对准销与导引轴衬位在一第二粗略对准位置之截面视图。图7C系凸轮转动感应器与目标在一第二粗略对准位置之正视图。图8A系一凸轮与角块在一预备致动位置之截面视图。图8B系一粗略对准销与导引轴衬位在一预备致动位置的截面视图。图8C系凸轮转动感应器与目标在一预备致动位置之正视图。图9A系一凸轮与角块位在介于一预备致动位置与一完全停置位置之中途的截面视图。图9B系一粗略对准销与导引轴衬位在介于一预备致动位置与一完全停置位置之中途的截面视图。图9C系凸轮转动感应器与目标位在介于一预备致动位置与一完全停置位置之间的正视图。图10A系一凸轮与角块在一完全停置位置上之截面视图。图10B系一粗略对准销与导引轴衬位在一完全停置位置之截面视图。图10C系凸轮转动感应器与目标位在一完全停置位置之正视图。图11A系一凸轮与角块位在一完全停置与锁固位置上之截面视图。图11B系一粗略对准销与导引轴衬位在一完全停置与锁固位置上之截面视图。图11C系一凸轮转动感应器与目标位在一完全停置与锁固位置上之正视图。图12系凸轮转动位置感应器之主要元件的立体视图。 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