发明名称 具有校正功能的雷射测距装置
摘要 具有校正功能的雷射测距装置,包括一本体、一第一雷射光源、一第一光接收器及一校正模组。第一雷射光源设置于本体上,第一雷射光源包含第一雷射二极体。第一光接收器设置于本体上,第一光接收器包含第一光接收元件(如CMOS影像感测元件)。校正模组设置于本体上,校正模组包含一第二雷射光源及一第二光接收器,第二雷射光源包含第二雷射二极体,第二光接收器包含第二光接收元件(如崩溃光二极体或光二极体)。藉此,该校正模组能校正三角量测远距离的误差,以提升其量测精度。
申请公布号 TWM522358 申请公布日期 2016.05.21
申请号 TW105200263 申请日期 2016.01.08
申请人 迪伸电子股份有限公司 发明人 董欣志
分类号 G01S17/06(2006.01) 主分类号 G01S17/06(2006.01)
代理机构 代理人 赖正健;陈家辉
主权项 一种具有校正功能的雷射测距装置,包括:一本体;一第一雷射光源,该第一雷射光源设置于该本体上,该第一雷射光源包含第一雷射二极体;一第一光接收器,该第一光接收器设置于该本体上,该第一光接收器包含第一光接收元件;以及一校正模组,该校正模组设置于该本体上,该校正模组包含一第二雷射光源及一第二光接收器,该第二雷射光源包含第二雷射二极体,该第二光接收器包含第二光接收元件,该校正模组用于校正量测的误差。
地址 桃园市中坜区中丰北路67号10楼