发明名称 | 用于控制多孔硅腐蚀深度的方法 | ||
摘要 | 用于控制多孔硅腐蚀深度的方法,涉及多孔硅材料。1)将硅片放入H<sub>2</sub>SO<sub>4</sub>和H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>混合溶液中加热,然后将硅片取出按照先热水后冷水冲洗的顺序反复冲洗,最后将硅片置于HF和H<sub>2</sub>O混合溶液中晃动,去除残留在硅片表面的氧化物,取出后冲洗,吹干;2)在步骤1)得到的硅片未抛光面磁控溅射Al膜,用于与直流电源的正极相接;3)将步骤2)得到的Al膜表面与电解槽底部接触,从而与直流电源正极连接,并把金属铂插入电解液中作为负极,腐蚀后得到多孔硅;4)将步骤3)得到的样品冲洗,烘干,得多孔硅。 | ||
申请公布号 | CN105755528A | 申请公布日期 | 2016.07.13 |
申请号 | CN201610212923.2 | 申请日期 | 2016.04.07 |
申请人 | 厦门大学 | 发明人 | 郑金成;付攀 |
分类号 | C25F3/12(2006.01)I | 主分类号 | C25F3/12(2006.01)I |
代理机构 | 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 | 代理人 | 马应森 |
主权项 | 用于控制多孔硅腐蚀深度的方法,其特征在于包括以下步骤:1)将硅片放入H<sub>2</sub>SO<sub>4</sub>和H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>混合溶液中加热,然后将硅片取出按照先热水后冷水冲洗的顺序反复冲洗,最后将硅片置于HF和H<sub>2</sub>O混合溶液中晃动,去除残留在硅片表面的氧化物,取出后冲洗,吹干;2)在步骤1)得到的硅片未抛光面磁控溅射Al膜,用于与直流电源的正极相接;3)将步骤2)得到的Al膜表面与电解槽底部接触,从而与直流电源正极连接,并把金属铂插入电解液中作为负极,腐蚀后得到多孔硅;4)将步骤3)得到的样品冲洗,烘干,得多孔硅。 | ||
地址 | 361005 福建省厦门市思明南路422号 |