发明名称 用于控制多孔硅腐蚀深度的方法
摘要 用于控制多孔硅腐蚀深度的方法,涉及多孔硅材料。1)将硅片放入H<sub>2</sub>SO<sub>4</sub>和H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>混合溶液中加热,然后将硅片取出按照先热水后冷水冲洗的顺序反复冲洗,最后将硅片置于HF和H<sub>2</sub>O混合溶液中晃动,去除残留在硅片表面的氧化物,取出后冲洗,吹干;2)在步骤1)得到的硅片未抛光面磁控溅射Al膜,用于与直流电源的正极相接;3)将步骤2)得到的Al膜表面与电解槽底部接触,从而与直流电源正极连接,并把金属铂插入电解液中作为负极,腐蚀后得到多孔硅;4)将步骤3)得到的样品冲洗,烘干,得多孔硅。
申请公布号 CN105755528A 申请公布日期 2016.07.13
申请号 CN201610212923.2 申请日期 2016.04.07
申请人 厦门大学 发明人 郑金成;付攀
分类号 C25F3/12(2006.01)I 主分类号 C25F3/12(2006.01)I
代理机构 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人 马应森
主权项 用于控制多孔硅腐蚀深度的方法,其特征在于包括以下步骤:1)将硅片放入H<sub>2</sub>SO<sub>4</sub>和H<sub>2</sub>O<sub>2</sub>混合溶液中加热,然后将硅片取出按照先热水后冷水冲洗的顺序反复冲洗,最后将硅片置于HF和H<sub>2</sub>O混合溶液中晃动,去除残留在硅片表面的氧化物,取出后冲洗,吹干;2)在步骤1)得到的硅片未抛光面磁控溅射Al膜,用于与直流电源的正极相接;3)将步骤2)得到的Al膜表面与电解槽底部接触,从而与直流电源正极连接,并把金属铂插入电解液中作为负极,腐蚀后得到多孔硅;4)将步骤3)得到的样品冲洗,烘干,得多孔硅。
地址 361005 福建省厦门市思明南路422号