触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置

摘要

本发明揭露一种触控面板的触点座标的取样方法以及触控装置。触控面板的触点座标的取样方法包含：(a1)以低侦测频率侦测触控面板上的触点；(a2)计算低侦测频率下的两个触点座标间的距离；(a3)判断此两个触点座标间的距离是否大于第一临界距离；(a4)当判断结果为真，以高侦测频率侦测触控面板上的触点；(a5)计算高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；(a6)判断步骤(a5)的两个触点座标间的距离是否小于第二临界距离，第二临界距离小于第一临界距离；以及(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以低侦测频率侦测触控面板上的触点。

主权项

一种触控面板的触点座标的取样方法，其特征在于，包含：(a1)以一低侦测频率侦测一触控面板上的触点，以得到时序上相邻的两个触点座标；(a2)计算该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离；(a3)判断该低侦测频率下的该两个触点座标间的距离是否大于一第一临界距离；(a4)当步骤(a3)的判断结果为真，以一高侦测频率侦测该触控面板上的触点，以获得时序上的下一个触点座标，当步骤(a3)的判断结果为否，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点；(a5)计算该高侦测频率下的时序上相邻的两个触点座标间的距离；(a6)判断步骤(a5)的该两个触点座标间的距离是否小于一第二临界距离，其中该第二临界距离小于该第一临界距离；以及(a7)当步骤(a6)的判断结果为真，以该低侦测频率侦测该触控面板上的触点，当步骤(a6)的判断结果为否，以该高侦测频率侦测该触控面板上的触点。