| 发明名称 |
DIGITAL IC TESTING CIRCUIT FOR HAVING MULTIPLE PIN |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR940002724(Y1) |
申请公布日期 |
1994.04.23 |
| 申请号 |
KR19910002229U |
申请日期 |
1991.02.13 |
| 申请人 |
GOLDSTAR ELECTRON CO., LTD. |
发明人 |
BAE, JONG - HWAN |
| 分类号 |
G01R31/319;G01R31/26;G01R31/3183;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/319 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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