发明名称 配线基板之残渣去除用组成物及洗净方法
摘要 本发明之课题在于提供一种配线基板之残渣去除用组成物,其含有氧化剂与唑类化合物,其pH为1~7;并提供一种配线基板之洗净方法,其系使用该组成物以去除乾蚀刻后之配线基板的残渣。藉由使用本发明之残渣去除用组成物,于配线基板之制造中,不会腐蚀高腐蚀性的钛或钛合金,而能够有效去除残存于乾蚀刻后之光阻或来自金属的残渣,尤其能够有效制造使用含有钛或钛合金之配线基板的半导体装置。
申请公布号 TW200732864 申请公布日期 2007.09.01
申请号 TW095147558 申请日期 2006.12.19
申请人 三菱瓦斯化学股份有限公司 发明人 桑原英子;柏木秀王;松永裕嗣;大户秀
分类号 G03F7/42(2006.01);C11D7/18(2006.01);C11D7/32(2006.01);H01L21/306(2006.01) 主分类号 G03F7/42(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;何秋远
主权项
地址 日本