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发明名称
半导体装置及其制造方法
摘要
一种半导体装置及该半导体装置的制造方法被揭示。该半导体装置包括黏着一种半导体元件的一基材、一第一补强板、一强化树脂构件,以及一第二补强板以强化该强化树脂构件。
申请公布号
TW200733315
申请公布日期
2007.09.01
申请号
TW095126361
申请日期
2006.07.19
申请人
富士通股份有限公司
发明人
福园健治
分类号
H01L23/12(2006.01);H01L21/60(2006.01)
主分类号
H01L23/12(2006.01)
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
日本
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