发明名称 半导体装置及其制造方法
摘要 一种半导体装置及该半导体装置的制造方法被揭示。该半导体装置包括黏着一种半导体元件的一基材、一第一补强板、一强化树脂构件,以及一第二补强板以强化该强化树脂构件。
申请公布号 TW200733315 申请公布日期 2007.09.01
申请号 TW095126361 申请日期 2006.07.19
申请人 富士通股份有限公司 发明人 福园健治
分类号 H01L23/12(2006.01);H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L23/12(2006.01)
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 日本