发明名称 |
一种MEMS器件及其制备方法、电子装置 |
摘要 |
本发明涉及一种MEMS器件及其制备方法、电子装置,所述MEMS器件包括:半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底上方;振膜,位于所述背板上方,包括间隔设置的第一振膜和第二振膜;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述第一振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有背腔;在所述第一振膜上形成有第一电极接触,所述第二振膜上形成有第二电极接触。本发明在所述MEMS麦克风中设计另一电容与该MEMS麦克风电容串联,通过调节另一电容的电容值来达到调节MEMS麦克风电容上分配的电压,使MEMS麦克风上分配到的电压为其工作电压,IC电路可以统一生产,减小了成本,有利于批量化生产。 |
申请公布号 |
CN105776124A |
申请公布日期 |
2016.07.20 |
申请号 |
CN201410837787.7 |
申请日期 |
2014.12.24 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
何昭文 |
分类号 |
B81B7/02(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;B81C3/00(2006.01)I;H04R19/04(2006.01)I |
主分类号 |
B81B7/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京市磐华律师事务所 11336 |
代理人 |
高伟;冯永贞 |
主权项 |
一种MEMS器件,包括:半导体衬底;背板,位于所述半导体衬底上方;振膜,位于所述背板上方,包括间隔设置的第一振膜和第二振膜;牺牲层,位于所述振膜和所述背板之间;其中,所述第一振膜与所述背板之间形成有空腔,所述空腔下方的所述半导体衬底中形成有背腔;在所述第一振膜上形成有第一电极接触,在所述第二振膜上形成有第二电极接触。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江路18号 |