| 摘要 |
<p>Dispositif (30) et procédé permettant de détecter des défauts dans les matériaux électriquement conducteurs. L'invention concerne un procédé de détection (30) et un dispositif (30) permettant d'utiliser des champs magnétiques (25) appliqués pour induire des champs magnétiques dans le matériau à tester (20), puis de détecter directement des modifications du champ magnétique induit (26) attribuables à la corrosion, à des criques, des défauts ou des anomalies dans ledit matériel (20). L'invention fait appel à un ou plusieurs capteurs (50) à magnétorésistance géante pour détecter directement les modifications du champ magnétique induit (26), qui provoquent dans lesdits capteurs (50) une réponse sous forme d'une modification du signal de résistance. Différents modes de configuration du dispositif (30) sont décrits, notamment les configurations avec détection absolue ou détection différentielle du champ, avec compensation active ou passive du champ, et avec capteur (50) unique ou ensembles de capteurs multiples (50, 60, 61, 62). Une pluralité de capteurs (50) à magnétorésistance géante peuvent être disposés sur un seul substrat (64) ou sur des substrats multiples (64, 66, 67). L'invention concerne également un procédé de détection faisant appel à la magnétorésistance géante (50).</p> |
