| 发明名称 |
Method and system for measuring optical scattering characteristics |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
AU2002311846(A1) |
申请公布日期 |
2002.11.05 |
| 申请号 |
AU20020311846 |
申请日期 |
2002.04.23 |
| 申请人 |
SYSTEMS AND PROCESSES ENGINEERING CORPORATION |
发明人 |
WILLIAM HALLIDAY;LEIF FREDIN;ROBERT CHIN |
| 分类号 |
G01K11/32;G01M11/00;(IPC1-7):G01M11/00;G01L1/24 |
主分类号 |
G01K11/32 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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