| 主权项 |
1.一种镀上一有机发光二极体之前测试一有机发光显示器(OLED)之复数个驱动电路的方法,该有机发光显示器包含:一写入扫描线(write scan line),用以致能(enable)欲测试之一驱动电路;一资料线(data line);一电源线(power line);以及一阵列基板(array glass),用以将该复数个驱动电路制作于上;该驱动电路包含:一第一电晶体及一第二电晶体,分别包含一源极(source)、一闸极(gate)及一汲极(drain);以及一第一电容,包含一第一端及一第二端;该方法包含下列步骤:(a)重复步骤(b)至步骤(e),直到该复数个驱动电路之一第一及一第二信号都已撷取完毕为止;(b)经由该写入扫描线,致能欲测试之一驱动电路;(c)经由该第一电晶体,对该第一电容充放电,并自该资料线撷取该第一信号;(d)放置一金属平板于该阵列基板上方,使得该金属平板与该阵列基板形成一第二电容;(e)经由该第二电晶体,对该第二电容充放电,并自该电源线撷取该第二信号;以及(f)分析该第一及第二信号,以判断该驱动电路可否正常工作。2.如申请专利范围第1项所述之方法,其中步骤(c)更包含:(g)由该资料线提供一高电压,经该第一电晶体,对该第一电容充电;(h)由该资料线提供一低电压,使该第一电容经该第一电晶体,对该资料线放电;以及(i)于该第一电容放电之过程中,自该资料线撷取该第一信号。3.如申请专利范围第1项所述之方法,其中步骤(e)更包含:(j)由该电源线提供一高电压,经该第二电晶体,对该第二电容充电;(k)由该电源线提供一低电压,使该第二电容经该第二电晶体,对该电源线放电;以及(l)于该第二电容放电之过程中,自该电源线撷取该第二信号。4.如申请专利范围第1项所述之方法,其中该第一及第二信号为一电荷値、电压値或电流値其中之一。5.如申请专利范围第1项所述之方法,其中步骤(f)更包含:(m)对该复数个驱动电路之该第一及第二信号分别计算一平均値;(n)当该第一信号介于该第一信号之该平均値约0.25倍至1.75倍之范围时,即表示该第一电晶体及该第一电容可正常工作;以及(o)当该第二信号介于该第二信号之该平均値约0.25倍至1.75倍之范围时,即表示该第二电晶体可正常工作。6.一种镀上一有机发光二极体之前测试一有机发光显示器之复数个驱动电路的装置,该有机发光显示器包含:一写入扫描线,用以致能欲测试之一驱动电路;以及一资料线;一电源线;以及一阵列基板,用以将该复数个驱动电路制作于上;该驱动电路包含:一第一电晶体及一第二电晶体,分别包含一源极、一闸极以及一汲极;以及一第一电容,包含一第一端及一第二端;该装置包含:一画素选择器(pixel selection device),用以选择欲测试之一驱动电路;一信号撷取器(signal extractor),用以撷取一信号;以及一信号分析器(signal analyzer),连接至该信号撷取器,用以储存并分析该信号,以判断欲测试之该驱动电路可否正常工作。图式简单说明:第一图为习知测试OLED画素之电路图;第二图为利用本发明之方法撷取第一信号之电路图;第三图为本发明测试方法之流程图;第四图为利用本发明之方法撷取第二信号之电路图;第五图为本发明测试装置撷取第一信号之示意图;第六图为本发明测试装置撷取第二信号之示意图。 |
