发明名称 |
一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置 |
摘要 |
本发明提供了一种确定用于光盘刻写的参数的方法及装置。对于没有预存储刻写信息或虽然预存储了刻写信息但不能满足刻写质量要求的光盘,按照本发明提供的方法,首先设置初始的光盘刻录参数,然后对其中相互之间有比较紧密关联性的一组参数,按照实验设计的方法进行光盘刻写测试,最后根据光盘刻写测试结果,确定选定优化的各参数与光盘刻写质量之间的关系,从而根据这个关系获得各参数相应的优化参数值,用于光盘刻写。根据本发明,可以在有限的时间和有限的光盘刻写测试空间内确定优化的光盘刻写参数。 |
申请公布号 |
CN101002257A |
申请公布日期 |
2007.07.18 |
申请号 |
CN200580027243.3 |
申请日期 |
2005.08.04 |
申请人 |
皇家飞利浦电子股份有限公司 |
发明人 |
陶靖;唐富龙;钟建毅 |
分类号 |
G11B7/00(2006.01);G11B7/125(2006.01) |
主分类号 |
G11B7/00(2006.01) |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 |
代理人 |
张雪梅;陈景峻 |
主权项 |
1.一种确定用于光盘刻写的参数的方法,包括步骤:(a)设置初始光盘刻写参数;(b)针对所述刻写参数中的一组参数进行预设定次数的光盘刻写测试,该组参数的各参数之间具有特定关联性;和(c)根据所述刻写测试的结果,确定该组参数中的各参数与光盘刻写质量之间的关系,以获得该组参数中各参数相应的优化参数值,用于光盘刻写。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |