发明名称 APPARAUTS FOR TESTING DIODE ARRAY
摘要
申请公布号 KR950003749(Y1) 申请公布日期 1995.05.13
申请号 KR19920014110U 申请日期 1992.07.29
申请人 DAEWOO ELECTRONICS COMPONENTS CO., LTD. 发明人 IM, YONG - BIN
分类号 G01R31/02;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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