| 发明名称 | 利用参数测定单元进行转换器测试 | ||
| 摘要 | 本发明的一方面是一种用于测试模数转换器(ADC)的集成电路(IC)，它包括参数测定单元(PMU)的第一通道，其配置成用于向ADC发送力信号。该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)。DAC具有精确度小于1毫伏的直流电平。本发明的另一方面是一种用于测试被测数模转换器器件(DACDUT)的集成电路(IC)。该IC包括一个参数测定单元(PMU)的第一通道，其配置成用于向DACDUT发送力信号，且包括一个用于进行测定的输出端口，该IC还包括连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)，以及一个连接到输出端口的PMU测定路径，它具有精确度小于1毫伏的直流电平。 | ||
| 申请公布号 | CN101088223A | 申请公布日期 | 2007.12.12 |
| 申请号 | CN200580044600.7 | 申请日期 | 2005.12.16 |
| 申请人 | 泰拉丁公司 | 发明人 | 欧内斯特·P·沃克;罗纳德·A·萨特斯奇夫 |
| 分类号 | H03M1/10(2006.01);H03M1/06(2006.01) | 主分类号 | H03M1/10(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 穆德骏;黄启行 |
| 主权项 | 1.一种用于测试模数转换器的集成电路(IC)，包括：参数测定单元(PMU)的第一通道，其设置成用于发送力信号；以及连接到PMU的第一通道的第一数模转换器(DAC)，该DAC具有精确度小于1毫伏的直流电平。 | ||
| 地址 | 美国马萨诸塞州 | ||