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经营范围
发明名称
Verfahren zur Messung der Ladungstraeger-Lebensdauer von Halbleiter-Material
摘要
申请公布号
DE1464355(A1)
申请公布日期
1969.01.16
申请号
DE19631464355
申请日期
1963.11.12
申请人
PHILIPS PATENTVERWALTUNG GMBH
发明人
HEINRICH KRAMPF,DIPL.-ING. CARL;KRAMER,GERHARD
分类号
G01R31/265
主分类号
G01R31/265
代理机构
代理人
主权项
地址
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