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发明名称
Verfahren und Vorrichtung zur diffraktometrischen,differentiellen Bestimmung von Gitterparameteraenderungen
摘要
申请公布号
DE1598362(A1)
申请公布日期
1970.07.23
申请号
DE19661598362
申请日期
1966.10.03
申请人
DEUTSCHE AKADEMIE DER WISSENSCHAFTEN ZU BERLIN
发明人
HANS SYHRE,DIPL.-ING.;MANFRED SCHENK,DR.RER.NAT.
分类号
G01N23/207
主分类号
G01N23/207
代理机构
代理人
主权项
地址
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