发明名称 | 存储装置的测试方法 | ||
摘要 | 一种存储装置的测试方法,预存数个存储装置类型及相对的存储装置效能期望值,接着接收输入待测存储装置类型及测试次数,并对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试,然后根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,进而依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果,最后并个别存储所有的效能测试结果及比较结果。 | ||
申请公布号 | CN101388254A | 申请公布日期 | 2009.03.18 |
申请号 | CN200710154050.5 | 申请日期 | 2007.09.13 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 罗梓桂;陈志丰 |
分类号 | G11C29/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人 | 程 伟 |
主权项 | 1. 一种存储装置的测试方法,应用于具有显示装置及输入装置的计算机系统中,用以测试与该计算机系统连接的存储装置的执行效能,该测试方法至少包括:预存数个存储装置类型及相对饿存储装置效能期望值于一连接至该计算机系统的数据库中;提供一输入界面,以接收透过该输入装置所输入的待测存储装置类型及测试次数;对该存储装置执行符合该测试次数的效能测试;根据所有的效能测试结果进行运算而得出效能测试结果的平均值,并依据该待测存储装置类型自该数据库获取对应的存储装置效能期望值与该平均值进行比较,且输出比较结果;以及个别存储所有的效能测试结果及比较结果。 | ||
地址 | 中国台湾台北市 |