发明名称 | 基于TDC的FPGA电路传输延迟测试系统和方法 | ||
摘要 | 本发明属于集成电路技术领域,具体为基于TDC方法的FPGA电路传输延迟测试系统和方法。本发明测试系统包括:待侧电路模块、测试激励生成模块、TDC模块、译码输出模块、时间校准模块和控制模块。本发明利用TDC方法对延迟链计数,可以较为方便的测出FPGA内部电路的传输延迟;利用FPGA芯片的内部资源,构建BIST(内建自测试)进行测试,具有测试成本低,抗干扰性好,可移植性强,不依赖测试工具等特点。对于FPGA内部各类传输延迟参数,包括:可编程逻辑单元(CLB),可编程输入输出单元(IOB)、块存储器(BRAM)、数字信号处理器(DSP)、可编程互联等FPGA组成模块电路的开关参数、互联延迟、组合逻辑延迟、CLK‑Q延迟的测试方面具有很好的应用价值。 | ||
申请公布号 | CN105842610A | 申请公布日期 | 2016.08.10 |
申请号 | CN201610199881.3 | 申请日期 | 2016.03.31 |
申请人 | 复旦大学 | 发明人 | 来金梅;石超;王健 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人 | 陆飞;盛志范 |
主权项 | 一种基于TDC的FPGA电路传输延迟测试系统,其特征在于包括:待侧电路模块、测试激励生成模块、TDC模块、译码输出模块、时间校准模块和控制模块;其中,测试激励生成模块用于产生符合测试要求的激励信号,并输入待测电路模块与TDC模块;待测电路模块的输出响应同样接入TDC模块中;TDC模块对来自上述测试激励生成模块和TDC模块的两个信号进行处理,产生测试结果;译码输出模块将TDC模块的输出转换为便于阅读的二进制数据;时间校准模块利用已知稳定时钟信号对TDC电路进行校准,保证测试精度;控制模块用于控制测试激励生成模块、TDC电路模块和时间校准模块的协调工作。 | ||
地址 | 200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |