发明名称 |
一种集成电路边界扫描测试装置 |
摘要 |
一种集成电路边界扫描测试装置,属于通信电子领域印制电路板上的集成电路测试领域。是利用计算机并行口进行边界扫描测试的装置,包括:底层接口模块;初试化模块;测试向量产生模块;测试模块;故障分析与定位模块;JTAG硬件接口模块;PCB网表文件分析模块;边界扫描描述语言文件分析模块。充分利用PC机本身的资源,即通过编制PC边界扫描应用程序和PC机并行口,同时辅助以JTAG接口硬件装置,来对待测设备进行边界扫描测试。不仅能够对待测PCB板上的器件进行边界扫描测试,而且能够对整个PCB板进行边界扫描测试。该装置成本低,能够提高PCB板生产的合格率,大大提高PCB板生产可测试性。 |
申请公布号 |
CN100351638C |
申请公布日期 |
2007.11.28 |
申请号 |
CN03113382.7 |
申请日期 |
2003.05.01 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
程智刚 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01);G06F11/22(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
权利要求书1、一种集成电路边界扫描测试装置,包括:底层接口模块,实现对Windows下底层硬件的驱动,使得应用程序能够对底层的硬件端口进行读写操作;初试化模块,实现对计算机并行口和测试逻辑的初试化,同时对定义的缓冲区进行初试化,以及对计算机并行口验证;网表文件分析模块,用于根据网络表文件分析得到PCB节点个数,网络连接情况,以及具有BST功能的器件在网络节点连接和分布情况;边界扫描描述语言文件分析模块,用于分析网络表中边界扫描测试器件的边界扫描描述语言文件,得出该器件支持的边界扫描测试命令、边缘扫描源寄存器长度、边缘扫描源控制逻辑关系,为测试向量生成和测试执行所用;测试向量产生模块,根据相关的测试向量生成算法来自动生成测试向量文件;测试模块,将测试测试向量输入到待测的印制电路板,读出测试结果;故障分析与定位模块,根据测试结果,给出故障类型和定位故障所在的位置;边界扫描标准硬件接口模块,实现对边界扫描标准接口信号的驱动和隔离。 |
地址 |
518057深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法律部 |