一种用于基准源的校准方法

摘要

本发明涉及模拟集成电路技术领域，特别涉及一种用于基准源的校准方法。本发明的方法主要包括设置与基准源相连的扫描装置，所述扫描装置可在预设的条件下实时采样基准源的输出电压从而获得采样电压；设置与扫描装置相连的减法器，所述减法器用于将扫描装置在不同条件下获得的采样电压进行求差并获得差值电压；将获得的差值电压转化为数字信号；计算可使得差值电压最小的基准源，获得基准源的修调值；通过状态机将修调值写入基准源。本发明的有益效果为，通过定时对基准输出电压的扫描来改变基准修调信号，保证了基准能长时工作在最佳状态，随温度的漂移很小，大大延长了芯片的使用寿命。

主权项

一种用于基准源的校准方法，其特征在于，包括以下步骤：第一步：设置与基准源相连的扫描装置，所述扫描装置可在预设的条件下实时采样基准源的输出电压从而获得采样电压；第二步：设置与扫描装置相连的减法器，所述减法器用于将扫描装置在不同条件下获得的采样电压进行求差并获得差值电压；第三步：将获得的差值电压转化为数字信号；第四步：计算可使得差值电压最小的基准源，获得基准源的修调值；第五步：通过状态机将修调值写入基准源。