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发明名称 MULTI INTERFACE BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR IC
摘要
申请公布号 KR200181401(Y1) 申请公布日期 2000.06.01
申请号 KR19960012866U 申请日期 1996.05.22
申请人 HYUNDAI ELECTRONICS IND. CO.,LTD. 发明人 PARK, BYEONG OK;KIM, DONG YEOL;KIM, MI HO
分类号 H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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