发明名称 | 用于对测量非线性度的自校准的方法 | ||
摘要 | 本发明涉及用于对测量非线性度的自校准的方法。一种用于校准具有初始输出电压水平和开放输出中继的测试仪器的方法可以包括针对一定的电流水平对测试仪器进行编程,启动定时器,以及(响应于测试仪器输入依从性)停止定时器以确定初始时间间隔。该方法也可以包括确定时间间隔是否在期望范围内。 | ||
申请公布号 | CN105717473A | 申请公布日期 | 2016.06.29 |
申请号 | CN201510951891.3 | 申请日期 | 2015.12.18 |
申请人 | 基思利仪器公司 | 发明人 | M.J.赖斯 |
分类号 | G01R35/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 周学斌;张涛 |
主权项 | 一种用于校准具有初始输出电压水平和开放输出中继的测试仪器的方法,包括:针对一定的电流水平对所述测试仪器进行编程;启动定时器;响应于所述测试仪器输入依从性,停止所述定时器以确定初始时间间隔;以及确定所述初始时间间隔是否在期望的范围内。 | ||
地址 | 美国俄亥俄州 |