发明名称 非挥发性存储元件及其制造方法
摘要 一种非挥发性存储元件及其制造方法,其中制造方法先提供一衬底,再于衬底中形成一沟槽。随后,于衬底与沟槽表面依序形成一底氧化层、一电荷陷入层以及一顶氧化层。之后,于顶氧化层上形成一导电层填满沟槽,再定义导电层,以于沟槽上形成一栅极。之后,去除栅极以外的顶氧化层、电荷陷入层以及底氧化层,再进行一源极或漏极掺杂制造工艺。由于本发明将存储元件做在沟槽中,所以可藉由增加耦合率来提升其储存效率,并可藉由调整沟槽深度而存入较多的电荷数。
申请公布号 CN100343980C 申请公布日期 2007.10.17
申请号 CN200410033247.X 申请日期 2004.03.29
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 许汉杰;张格荥
分类号 H01L21/8247(2006.01);H01L27/115(2006.01) 主分类号 H01L21/8247(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波;侯宇
主权项 1.一种非挥发性存储元件的制造方法,包括:提供一衬底;于该衬底中形成一沟槽;于该衬底与该沟槽表面形成一底氧化层;于该底氧化层上形成一电荷陷入层;于该电荷陷入层上形成一顶氧化层;于该顶氧化层上形成一导电层填满该沟槽;定义该导电层,以于该沟槽上形成一栅极;去除该栅极以外的该顶氧化层、该电荷陷入层以及该底氧化层;以及进行一源极或漏极掺杂工艺。
地址 台湾省新竹市