发明名称 |
非挥发性存储元件及其制造方法 |
摘要 |
一种非挥发性存储元件及其制造方法,其中制造方法先提供一衬底,再于衬底中形成一沟槽。随后,于衬底与沟槽表面依序形成一底氧化层、一电荷陷入层以及一顶氧化层。之后,于顶氧化层上形成一导电层填满沟槽,再定义导电层,以于沟槽上形成一栅极。之后,去除栅极以外的顶氧化层、电荷陷入层以及底氧化层,再进行一源极或漏极掺杂制造工艺。由于本发明将存储元件做在沟槽中,所以可藉由增加耦合率来提升其储存效率,并可藉由调整沟槽深度而存入较多的电荷数。 |
申请公布号 |
CN100343980C |
申请公布日期 |
2007.10.17 |
申请号 |
CN200410033247.X |
申请日期 |
2004.03.29 |
申请人 |
力晶半导体股份有限公司 |
发明人 |
许汉杰;张格荥 |
分类号 |
H01L21/8247(2006.01);H01L27/115(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/8247(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
陶凤波;侯宇 |
主权项 |
1.一种非挥发性存储元件的制造方法,包括:提供一衬底;于该衬底中形成一沟槽;于该衬底与该沟槽表面形成一底氧化层;于该底氧化层上形成一电荷陷入层;于该电荷陷入层上形成一顶氧化层;于该顶氧化层上形成一导电层填满该沟槽;定义该导电层,以于该沟槽上形成一栅极;去除该栅极以外的该顶氧化层、该电荷陷入层以及该底氧化层;以及进行一源极或漏极掺杂工艺。 |
地址 |
台湾省新竹市 |