发明名称 一种精密小角度测量装置
摘要 本发明涉及一种精密小角度测量装置,属于计量技术领域。本发明利用正弦原理实现小角度的测量,结构包括平板(1)、悬臂梁(2)及转动机构(3)、微调机构(4)及传感装置(6)、数显箱(5);转动机构(3)、微调机构(4)、传感装置(6)和数显箱(5)固定安装于平板(1)上,悬臂梁(2)一端固定安装于转动机构(3),一端置于微调机构(4)上,传感装置(6)位于微调机构(4)上方,可以测量悬臂梁(2)一端升降的高度,并将高度值传送给数显箱(5),由数显箱(5)根据悬臂梁(2)一端升降的高度和悬臂梁(2)有效长度计算并显示角度值。对比现有技术,本发明具有操作简单,读数稳定,结构紧凑,抗干扰能力强等优点。
申请公布号 CN105783791A 申请公布日期 2016.07.20
申请号 CN201610304167.6 申请日期 2016.05.10
申请人 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 发明人 徐永;何学军;唐志锋;张丙玉
分类号 G01B11/26(2006.01)I 主分类号 G01B11/26(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种精密小角度测量装置,其特征在于,包括平板(1)、悬臂梁(2)及转动机构(3)、微调机构(4)及传感装置(6)、数显箱(5);转动机构(3)、微调机构(4)、传感装置(6)和数显箱(5)固定安装于平板(1)上,悬臂梁(2)一端固定安装于转动机构(3),一端置于微调机构(4)上,传感装置(6)位于微调机构(4)上方,可以测量悬臂梁(2)一端升降的高度,并将高度值传送给数显箱(5),由数显箱(5)根据悬臂梁(2)一端升降的高度和悬臂梁(2)有效长度计算并显示角度值;平板(1)用于安装固定悬臂梁(2)及转动机构(3)、微调机构(4)及传感装置(6)、数显箱(5),测量过程中用于放置被测仪器;悬臂梁(2)用于提供测量过程中的升降高度H和有效长度L,以及被测水平仪放置的研磨平台;转动机构(3)用于提供悬臂梁(2)在工作过程中一端的转动支撑;微调机构(4)用于提供悬臂梁(2)在工作过程中另一端的升降以实现其微小角度变化;传感装置(6)用于测量悬臂梁(2)在工作过程中升降的位移量H,并将之传送到数显箱(5);数显箱(5)用于对接收的位移量H,根据悬臂梁(2)的有效长度L,按照公式α=a sin(H/L)进行计算得到角度值α并显示;工作过程:将被测的水平仪放置在悬臂梁(2)上并调整好位置,转动微调机构(4),实现悬臂梁(2)一端绕另一端抬起或降低H,H值通过传感装置(6)测量并传送给数显箱(5),数显箱(5)依据公式α=a sin(H/L)计算出角度变化量α并显示。
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