发明名称 |
Einrichtung zur Prüfung von Testobjekten bei variablen Temperaturen |
摘要 |
|
申请公布号 |
CH451556(A) |
申请公布日期 |
1968.05.15 |
申请号 |
CH19670009373 |
申请日期 |
1967.06.28 |
申请人 |
BALZERS PATENT- UND LIZENZ-ANSTALT |
发明人 |
WOESSNER,HERMANN |
分类号 |
B01J3/00;B01J3/04;B01L7/00;B64G7/00 |
主分类号 |
B01J3/00 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|