发明名称 Verfahren zum Herstellen eines Isolator-Dünnfilms sowie Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauteils
摘要 Verfahren zum Herstellen eines Isolator-Dünnfilms (102) auf einem Substrat (100), mit den Schritten: – einem ersten Schritt zum Herstellen einer Silicium-Atomschicht auf dem Substrat und einer Sauerstoff-Atomschicht auf dieser; und – einem zweiten Schritt zum Herstellen einer Metall-Atomschicht auf dem Substrat und einer Sauerstoff-Atomschicht auf dieser; – wobei alle Schichten durch einen Atomschicht-Abscheidungsprozess hergestellt werden und der Isolator-Dünnfilm (102) einen Gradienten der Konzentration von Metallatomen aufweist, wobei die Konzentration der Metallatome im Isolator-Dünnfilm (102) dadurch kontrolliert wird, dass die Anzahl der Ausführungen des ersten und des zweiten Schritts kontrolliert wird, und dem Isolator-Dünnfilm (102) Stickstoff zugesetzt wird, wobei der Stickstoff durch ein Plasma in einer Stickstoff enthaltenden Atmosphäre zugeführt wird und das Plasma durch elektrische Entladung unter Verwendung einer gepulsten Spannungsquelle erzeugt wird.
申请公布号 DE102004048679(B4) 申请公布日期 2016.09.01
申请号 DE20041048679 申请日期 2004.10.06
申请人 Sony Corporation 发明人 Hirano, Tomoyuki
分类号 H01L21/314;H01L21/316;C23C16/40;C23C16/44;C23C16/455;H01L21/205;H01L21/28;H01L21/31;H01L21/336;H01L29/51;H01L29/78 主分类号 H01L21/314
代理机构 代理人
主权项
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